接触式芯片高低温测试设备简介

接触式芯片高低温控制系统通过测试头与DUT之间直接接触，将DUT的温度（壳温或者结温）调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。

接触式芯片高低温测试设备案例分析

汉旺微电子是以色列Mechanical Devices公司中国区战略合作伙伴，在负责终端客户销售的同时还负责其OEM业务，与国内芯片分选机（Handler）厂家或其他自动化测试设备（ATE）公司合作进行系统集成。