· 自主研发的闪存芯片智能测试系统支持闪存颗粒或SSD的测试
· 支持多种型号闪存颗粒并行测试并且可以提供宽温度测试环境
· 并行测试闪存颗粒种类最多可达64种，并行测试闪存颗粒数量最多可达512颗。
· 支持SATAI/II/III或PCIe接口的SSD测试
· 支持测试片数定制化，比如30片、36片、42片、48片、54片、72片、100片、160片、200片、216 片、316 片等等
· 支持研发微小型定制化，比如2片、6片等等
· 支持-70℃~+180℃的温度测试范围
· 支持异常断电测试和老化测试
· 支持自动化温控测试
· 支持全部采用软体进行智能化控制测试
· 支持测试软体的定制化
· 支持箱内风速与温度均衡
· 支持快速升降温控制
· 支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研发
· 支持网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果
· 支持APP远程控制

SATA/PCIe智能测试老化柜